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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱 薄膜折彎測(cè)試是一款專門用于測(cè)試薄膜屏在不同溫度和濕度條件下性能表現(xiàn)的設(shè)備。它能夠模擬各種惡劣的環(huán)境條件，為薄膜屏的研發(fā)、質(zhì)量檢測(cè)和可靠性評(píng)估提供重要的技術(shù)支持。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-09-30訪 問(wèn) 量：217
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恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱 薄膜折彎測(cè)試
恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱 薄膜折彎測(cè)試
控制系統(tǒng)：
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：低溫試驗(yàn)
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