Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 均勻性好 該設(shè)備是測試各種材料對高、低溫的急劇變化的環(huán)境,試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),用途用于子器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),BGA、PCB基扳、子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
2024-10-30
TSD-100F-2P
103
廣皓天 冷熱沖擊試驗(yàn)箱進(jìn)口配置 安全可靠 該設(shè)備是測試各種材料對高、低溫的急劇變化的環(huán)境,試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),用途用于子器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),BGA、PCB基扳、子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
2024-10-30
TSD-100F-2P
101
液晶屏二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱 該設(shè)備是測試各種材料對高、低溫的急劇變化的環(huán)境,試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),用途用于子器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),BGA、PCB基扳、子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
2024-10-30
TSD-100F-2P
103
定制款 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可程式 該設(shè)備是測試各種材料對高、低溫的急劇變化的環(huán)境,試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),用途用于子器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),BGA、PCB基扳、子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
2024-07-15
TSD-100F-2P
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多功能工業(yè)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 用于子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。為材料開發(fā)、物性試驗(yàn)、教學(xué)研究、品質(zhì)管制、進(jìn)料檢驗(yàn)*的檢測設(shè)備。
2024-07-12
TSD-80F-2P
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兩箱三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 是一種惡劣的溫度環(huán)境,來對金屬、塑料、橡膠、電子等材料進(jìn)行篩選和考核,可作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。試驗(yàn)產(chǎn)品在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
2024-07-12
TSD-150F-2P
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高低溫冷熱沖擊測試機(jī) 噪音低 是一種惡劣的溫度環(huán)境,來對金屬、塑料、橡膠、電子等材料進(jìn)行篩選和考核,可作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。試驗(yàn)產(chǎn)品在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
2024-07-12
TSD-100F-2P
238
廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 噪音低 用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。
2024-07-11
TSD-480F-2P
269
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